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i. 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST) >
i20. 学位論文 >
M-MS. 修士（マテリアルサイエンス）・修士（材料科学） >
M-MS. 1997年度(H09) >

このアイテムの引用には次の識別子を使用してください: http://hdl.handle.net/10119/2503

タイトル: 走査型電界電子放射顕微鏡による後方散乱電子のエネルギー分析
著者: 寺井, 仁
著者（別表記）: てらい, ひとし
キーワード: STM, EELS, AES, FEM
発行日: Mar-1998
記述: 
Supervisor:富取 正彦
材料科学研究科
修士
タイトル（英語）: 走査型電界電子放射顕微鏡による後方散乱電子のエネルギー分析
著者（英語）: TERAI, Hitoshi
URI: http://hdl.handle.net/10119/2503
出現コレクション:M-MS. 1997年度(H09) (Jun.1997 - Mar.1998)

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