WEKO3
-
RootNode
アイテム
平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアの寿命評価： 不純物酸素析出による寿命劣化の検出
http://hdl.handle.net/10228/00006160
http://hdl.handle.net/10228/00006160f7e2d890-b08e-4d08-b96d-d859fe3fa75f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
nperc73.pdf (256.2 kB)
|
|
| Item type | 会議発表論文 = Conference Paper(1) | |||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2017-04-27 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | 平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアの寿命評価： 不純物酸素析出による寿命劣化の検出 | |||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| その他のタイトル | ||||||||||||
| その他のタイトル | Bulk lifetime of free carriers evaluated by parallel dual laser-beam technique: Detection of lifetime degradation due to oxygen precipitation | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
| 著者 |
金田, 寛
× 金田, 寛× 大村, 一郎
WEKO
16176
|
|||||||||||
| 備考 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | 第77回応用物理学会秋季学術講演会, 朱鷺メッセ（新潟市), 2016-09-13/2016-09-16 | |||||||||||
| 書誌情報 |
応用物理学会秋季学術講演会 巻 2016, p. 15p-A23-8, 発行日 2016-09-15 |
|||||||||||
| 出版社 | ||||||||||||
| 出版社 | 社団法人応用物理学会 | |||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||
| 権利情報 | 社団法人応用物理学会 | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | シリコン | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | キャリアライフタイム | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | レーザー | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||
| 値 | 6111 | |||||||||||
