Taller sobre estadísticas e indicadores de patentes

Abstract

Los días 17 al 19 de septiembre de 2003 se celebró en la sede de la Organización Mundial de la Propiedad Intelectual (OMPI), en Ginebra, un taller patrocinado por OCDE y OMPI, con el objetivo de profundizar en la mejora de las estadísticas de patentes y su aplicación como indicadores de resultados científicos, tecnológicos y de innovación, proponiéndose también nuevos indicadores de patentes. A la reunión asistieron unos 200 representantes, y se presentaron 24 ponencias a cargo de prestigiosos especialistas de todo el mundo en el campo de las estadísticas y los indicadores de patentes como: Francis Narin, de CHI Research Inc, de EE.UU.; Robert Tijssen, del Cen- Rev. Esp. Doc. Cient., 26, 4, 2003 465 tro de Estudios Científicos y Tecnológicos de la Universidad de Leiden; Guido Strack, de EUROSTAT; Ulrich Schmoch, del Instituto de Investigación de sistemas de Innovación, de Alemania; Pari Patel, de SPRU, Universidad de Sussex; Hèléne Dernis, de OCDE; Mikhail Makarov, de OMPI; Jim Hirabayashi, de OEP, entre otros.