Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
C
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Bakalářská práce se zabývá teorií tlustovrstvé technologie. Popisuje realizaci tlustovrstvých integrovaných obvodů, technologií tlustých vrstev, metodou sítotisku. Obsahuje základní elektrické vlastnosti tlusté vrstvy. Cílem práce je experimentální zjišťování vrstvového odporu a proudové zatížitelnosti vodičů. Součástí práce je návrh metody měření a testovací struktury.
This bachelor thesis deals with the theory of thick film technology. It describes implementation of thick layer integrated circuits, thick film technology, creen printing method. It includes basic electrical properties of thick layers. The aim of this work is the experimental work deals with the detection of current rating of conductors. The work includes the design of method of measuring and test structure.
Description
Citation
ČEJKA, M. Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Mikroelektronika a technologie
Comittee
prof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (předseda) prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (místopředseda) Ing. Břetislav Mikel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Arnošt Bajer, CSc. (člen) Ing. Michal Pavlík, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2012-06-11
Defence
Student s pomocí prezentace seznámil státní zkušební komisi s cíly a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta a členů komise u obhajoby. Položené otázky - oponent: V jakém oboru HIO jsou potřeba vodiče s nízkým odporem a vysokou proudovou nosností? Doplněny byly dotazy na způsob měření pomocí zkorodovaných krokosvorek a ovlivnění přechodovými odpory. Další dotazy byly na strukturu vzorku, destrukci vzorku při měření. Další dotaz je na změnu odporu s rozdílnou tloušťkou vrstvy.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO