Determination of the inelastic mean free paths (IMFPs) in Ti by elastic peak electron spectroscopy (EPES): effect of impurities and surface excitations

0040962 - FZÚ 2007 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr
Determination of the inelastic mean free paths (IMFPs) in Ti by elastic peak electron spectroscopy (EPES): effect of impurities and surface excitations.
[Stanovení střední neelastické volné dráhy elektronů pro Ti: vliv nečistot a povrchových excitací.]
Applied Surface Science. Roč. 252, - (2006), s. 2741-2746. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/02/0237
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: elastic peak electron spectroscopy * EPES * inelastic mean free path * IMFP * electron elastic scattering cross section * surface excitation * Ti * Cu
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.436, rok: 2006

In the present work we investigate quantitatively the role of contaminations, density and surface excitations on electron inelastic mean free paths (IMFPs) in Ti determined by elastic peak electron spectroscopy (EPES) using Cu standard.

V této práci studujeme vliv nečistot, hustoty a povrchových excitací na střední neelastickou volnou dráhu elektronů v Ti.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0003624