Počet záznamů: 1
Evaluation of GaAs and InP MSM detection of pulsed X-ray emission from laser plasmas
- 1.0134620 - FZU-D 20030520 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ryc, L. - Dubecky, F. - Pfeifer, Miroslav - Pura, B. - Riesz, F. - Slysz, W.
Evaluation of GaAs and InP MSM detection of pulsed X-ray emission from laser plasmas.
Proceedings of the Semiconducting and Insulating Materials Conference (SIMC-XII). Bratislava: XX, 2002, s. x-x.
[Semiconducting and Insulating Materials Conference /12./. Smolenice Castle (SK), 30.06.2002-05.07.2002]
Grant CEP: GA MŠMT LN00A100
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: x-ray diagnostics * time characteristics * semiconductor detectors
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Fast response GaAs and InP x- ray photodiodes was evaluated.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032516
Počet záznamů: 1