Počet záznamů: 1
Time-Resolved Reflectivity Studies of Phase Transition in Polycrystalline Si Induced by Excimer Laser Irradiation
- 1.0174191 - MU-W 950154 RIV IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Přikryl, Petr - Černík, M. - El-Kader, K. M. A. - Ulrych, Ivo - Černý, R. - Chvoj, Zdeněk - Cháb, Vladimír
Time-Resolved Reflectivity Studies of Phase Transition in Polycrystalline Si Induced by Excimer Laser Irradiation.
Proceedings of Polycrystalline Semiconductors 1995. 1995 - (Pizzini, S.), s. 41
[Pollycrystalline Semiconductors 1995. Gargnano (IT), 09.09.1995-14.09.1995]
Grant CEP: GA ČR 203/93/2383
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0071205
Počet záznamů: 1