Počet záznamů: 1  

RBS and WDX characterization of sputtered carbon nitride films

  1. 1.
    0184432 - UJF-V 980240 IR eng A - Abstrakt
    Peřina, Vratislav - Jelínek, M. - Jurek, K. - Sobota, J.
    RBS and WDX characterization of sputtered carbon nitride films.
    Book of Abstracts of the European Conference on the Atomic and Molecular Physics of Ionized Gases /14./. Belfast: European Physical Society, 1998 - (Riley, D.; Mahony, C.; Graham, W.). s. 502-503
    [European Conference on the Atomic and Molecular Physics of Ionized Gases /14./. 26.08.1998-29.08.1998, Malahide]
    Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0080861

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.