Nanocrystalline CsPbBr.sub.3./sub. thin films: a grain boundary optoelectronic study

0022277 - FZÚ 2006 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Conte, G. - Somma, F. - Nikl, Martin
Nanocrystalline CsPbBr₃ thin films: a grain boundary optoelectronic study.
[Nanorystalické tenké vrstvy CsPbBr₃: optoelektronická studie hranic zrn.]
Physica Status Solidi C. Roč. 2, č. 1 (2005), s. 306-309. ISSN 1610-1634
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: CsPbBr₃ nanocrystal * thin film * photoconductivity * impedance
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

CsPbBr₃ thin films with nanocrystalline morphology were studied by using optoelectronic techniques to infer the grain boundary region in respect of the crystalline´s interior performance. Co-evaporation of purified powders or crushed Bridgman single crystals were used to deposit materials.

Tenké nanokrystalické vrstvy CsPbBr₃ byly studovány opto-elektronickými technikami pro zmapování vlastností hranic-povrchu a objemu monokrystalických zrn. Vrstvy byly připraveny vykuovým napařováním a při studiu byl použit také stejný materiál ve formě makroskopického monokrystalu připraveného metodou Bridgmana.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111033