Závislost transportních vlastností Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. na jejich tloušťce

0304127 - URE-Y 20030021 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Pavelka, Martin - Žďánský, Karel - Jelínek, Miroslav - Walachová, Jarmila
Závislost transportních vlastností Bi₂Te₃ na jejich tloušťce.
[Thickness dependence of transport properties of Bi₂Te₃ layers.]
Ostrava: Repronis, 2002. ISBN 80-7329-027-8. In: Proceedings of the National Conference NANO'02. - (Švejcar, J.; Šandera, P.), s. 214-216
[NANO'02. Brno (CZ), 19.11.2002-21.11.2002 (K)]
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: thin films * materials properties * thermoelectricity
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

U Bi₂Te₃ vrstev, připravených laserovou ablací, jsou prezentovány transportní vlastnosti, jako Hallova pohyblivost částic a vodivost v závislosti na tloušťce vrstev při pokojové teplotě. Tento termoelektrický materiál je vhodný pro mnoho různých aplikací, jako např. chladiče, generátory elektrické energie a senzory.

The transport properties of layers, prepared by laser ablation, as Hall mobility and conductivity on their thickness at room temperature are presented. This thermoelectric materials is potential candidate for many applications as for thermoelectric devices for power generation, cooling and sensors.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0114268