Persistent microscopic charge patterns in amorphous silicon thin films for guided assembly of colloids

0030592 - FZÚ 2006 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan - Stemmer, A.
Persistent microscopic charge patterns in amorphous silicon thin films for guided assembly of colloids.
[Trvale nabité mikroskopické oblasti v tenko-vrstvém amorfním křemíku pro řízený záchyt koloidních roztoků.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 351, - (2005), s. 3127-3131. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: hydrogenated amorphous silicon * charge patterning * Kelvin force microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.264, rok: 2005

Persisten microscopic charge patterns are written on hydrogenated amorphous silicon thin films (a-Si:H) using ambient atomic force microscopy (AFM). The stored charge is characterized as a function of time by Kelvin force microscopy

trvalé nabité mikroskopické oblasti jsou zapsány na tenké vrystvy hydrogenového amofního křemíku (a-Si:H) pomocí vzduchového mikroskopu atomárních sil (SFM). Zapsaný náboj je charakterizován v čase pomocí mikroskopie Kelvinovy síly
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0120320