Počet záznamů: 1  

Study of uncertainties of height measurements of monoatomic steps on Si 5 × 5 using DFT

  1. 1.
    0473812 - FZÚ 2018 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Campbell, A.C. - Jelínek, Pavel - Klapetek, P.
    Study of uncertainties of height measurements of monoatomic steps on Si 5 × 5 using DFT.
    Measurement Science and Technology. Roč. 28, č. 3 (2017), 1-6, č. článku 034005. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: DFT * AFM
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Impakt faktor: 1.685, rok: 2017

    In this contribution, sources of uncertainty for height measurements using atomic force microscopy (AFM) in contact mode are discussed. Results of density functional theory (DFT) modeling of AFM scans on a monoatomic step on silicon 5 times 5 are presented.

    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0270946

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.