Toggle navigation
norsk
English
norsk
norsk
English
Logg inn
Toggle navigation
Vis innførsel
Hjem
Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
Publikasjoner fra Cristin - NMBU
Vis innførsel
Hjem
Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
Publikasjoner fra Cristin - NMBU
Vis innførsel
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Oxygen-related defects in n-type Czochralski silicon wafers studied by hyperspectral photoluminescence imaging
Mehl, Torbjørn
;
Burud, Ingunn
;
Letty, Elenore
;
Olsen, Espen
Journal article, Peer reviewed
Published version
Åpne
1-s2.0-S1876610217342972-main.pdf (929.4Kb)
Permanent lenke
http://hdl.handle.net/11250/2489014
Utgivelsesdato
2017
Metadata
Vis full innførsel
Samlinger
Journal articles (peer reviewed)
[4858]
Publikasjoner fra Cristin - NMBU
[5782]
Originalversjon
Energy Procedia. 2017, 124 107-112.
10.1016/j.egypro.2017.09.326
Tidsskrift
Energy Procedia
Med mindre annet er angitt, så er denne innførselen lisensiert som Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internasjonal
Hele arkivet
Denne samlingen
Bla i
Hele arkivet
Delarkiv og samlinger
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Denne samlingen
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Min side
Logg inn
Statistikk
Besøksstatistikk