一種用於數位電路偵錯之隨機測試方法

標題:	一種用於數位電路偵錯之隨機測試方法
作者:	張耀北 Zhang, Yue-Bei 鄧啟福 Deng, Qi-Fu 電子研究所
關鍵字:	數位電路偵錯;隨機測試方法;電子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING
公開日期:	1980
摘要:	對於組合及同步時序邏輯電路的偵錯，本文提出一種隨機測試方法，它只需六道線路輸出端邏輯－出現或然率的正確值，以及使用者所要求的測試品質，即可估計隨機序列所需輸入的長度。經由實驗的結果顯示本方法的正確率確如所期待。本方法從上程觀點看是非常具有值。 #2811443 #2811443
URI:	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT694430026 http://hdl.handle.net/11536/51393
顯示於類別：	畢業論文