Le tecniche di tomografia elettrica di resistività (ERT), tomografia elettrica d’impedenza (EIT) e polarizzazione indotta (IP) sono ampiamente utilizzate in ambito geofisico per applicazioni geologiche, ingegneristiche e ambientali. In particolare, negli ultimi quindici anni molti progetti di ricerca (p.es. Vanhala, 1997; Ramirez et al., 1999; Chambers et al., 2004; Cassiani et al. 2009) sono stati sviluppati su modelli di laboratorio, con differenti geometrie di acquisizione e diversi approcci alla soluzione dei problemi diretto ed inverso. In questa nota verrà investigato a scala di laboratorio l’intero processo d’indagine tomografica nel dominio del tempo, fornendo una valutazione degli errori che scaturiscono nelle diverse fasi (acquisizione, modellazione diretta, inversione), e presentando un algoritmo risolutivo agli elementi finiti basato sull’approccio CEM (Complete Electrode Model) per la risoluzione del problema diretto (Cheng et al., 1989; Vaukhonen, 1997).

Tomografia elettrica di resistività e caricabilità nel dominio del tempo a scala di laboratorio / DE DONNO, Giorgio; Cardarelli, Ettore. - STAMPA. - (2009), pp. 565-568. (Intervento presentato al convegno GNGTS tenutosi a Trieste nel 16-19 novembre).

Tomografia elettrica di resistività e caricabilità nel dominio del tempo a scala di laboratorio

DE DONNO, GIORGIO;CARDARELLI, Ettore
2009

Abstract

Le tecniche di tomografia elettrica di resistività (ERT), tomografia elettrica d’impedenza (EIT) e polarizzazione indotta (IP) sono ampiamente utilizzate in ambito geofisico per applicazioni geologiche, ingegneristiche e ambientali. In particolare, negli ultimi quindici anni molti progetti di ricerca (p.es. Vanhala, 1997; Ramirez et al., 1999; Chambers et al., 2004; Cassiani et al. 2009) sono stati sviluppati su modelli di laboratorio, con differenti geometrie di acquisizione e diversi approcci alla soluzione dei problemi diretto ed inverso. In questa nota verrà investigato a scala di laboratorio l’intero processo d’indagine tomografica nel dominio del tempo, fornendo una valutazione degli errori che scaturiscono nelle diverse fasi (acquisizione, modellazione diretta, inversione), e presentando un algoritmo risolutivo agli elementi finiti basato sull’approccio CEM (Complete Electrode Model) per la risoluzione del problema diretto (Cheng et al., 1989; Vaukhonen, 1997).
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/332083
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