This paper summarizes results of accelerated testing on Emitter Coupled Logic bipolar integrated circuits. Electromigration effects on AlCuSi metallization and contacts are analyzed in detail
Elettromigrazione in dispositivi Emitter Coupled Logic con metallizzazioni in Al-Cu-Si
ZANONI, ENRICO
1983
Abstract
This paper summarizes results of accelerated testing on Emitter Coupled Logic bipolar integrated circuits. Electromigration effects on AlCuSi metallization and contacts are analyzed in detailFile in questo prodotto:
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