Comparison of breakdown characteristics of AlGaN/GaN HEMTs in voltage and current controlled mode: electrical and optical characterization

MENEGHINI, MATTEO;CARRARO, SIMONE;FERRETTI, MARCO;ZANONI, ENRICO;MENEGHESSO, GAUDENZIO
2013

2013
TWHM2013 10th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics
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