Electron Trapping in GaN-on-Si Power HEMTs: Impact of Positive Substrate Bias

MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO;
2015
2015
Proc. of 11th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-11)
04.02 - Abstract in atti di convegno
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