Soft X-ray microscopy to characterize polyelectrolyte assemblies

Köhler, K.; Dejugnat, C.; Dubois, M.; Zemb, T.; Sukhorukov, G. B.; Guttmann, P.; Möhwald, H.

doi:10.1021/jp070360+

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学術論文

Soft X-ray microscopy to characterize polyelectrolyte assemblies

MPS-Authors

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Köhler, K.
Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

Dubois, M.
Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Sukhorukov, G. B.
Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Möhwald, H.
Helmuth Möhwald, Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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引用

Köhler, K., Dejugnat, C., Dubois, M., Zemb, T., Sukhorukov, G. B., Guttmann, P., & Möhwald, H. (2007). Soft X-ray microscopy to characterize polyelectrolyte assemblies. The Journal of Physical Chemistry B, 111(29), 8388-8393. doi:10.1021/jp070360+.

引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-56DC-C

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