Deuterium Retention in Tungsten Films Deposited on Different Substrates

Wang , P.; Jacob, W.; Gao, L.; Elgeti, S.; Balden, M.; Manhard, A.

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Deuterium Retention in Tungsten Films Deposited on Different Substrates

MPG-Autoren

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Jacob, W.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Gao, L.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Elgeti, S.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Balden, M.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons109876

Manhard, A.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Zitation

Wang, P., Jacob, W., Gao, L., Elgeti, S., Balden, M., & Manhard, A. (2014). Deuterium Retention in Tungsten Films Deposited on Different Substrates. Poster presented at 21st International Conference on Plasma Surface Interactions 2014 (PSI 21), Kanazawa.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0023-CAF0-1

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