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Simon, J.M.; Lemmi, C.C. "Interferometers: Equivalent sine condition and pseudoholographic properties" (1990) Applied Optics. 29(13):1868-1869
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Registro:
| Documento: | Artículo |
| Título: | Interferometers: Equivalent sine condition and pseudoholographic properties |
| Autor: | Simon, J.M.; Lemmi, C.C. |
| Filiación: | University of Buenos Aires, Physics Department, Ciudad Universitaria, Buenos Aires, 1428, Argentina |
| Año: | 1990 |
| Volumen: | 29 |
| Número: | 13 |
| Página de inicio: | 1868 |
| Página de fin: | 1869 |
| DOI: | http://dx.doi.org/10.1364/AO.29.001868 |
| Título revista: | Applied Optics |
| Título revista abreviado: | Appl. Opt. |
| ISSN: | 1559128X |
| Registro: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/paper/document/paper_1559128X_v29_n13_p1868_Simon |
Referencias:
- Stroke, G.W., Restrick, R.C., III, Holography with Spatially Noncoherent Light (1965) Appl. Phys. Lett., 7, pp. 229-230
- Cochran, G., New Method of Making Fresnel Transforms with Incoherent Light (1966) J. Opt. Soc. Am., 56, pp. 1513-1517
- Kozma, A., Massey, N., Bias Level Reduction of Incoherent Holograms (1969) Appl. Opt., 8, pp. 393-397
- Simon, J.M., Comastri, S.A., Interferometers: Equivalent Sine Condition (1988) Appl. Opt., 27, pp. 4725-4730
Citas:
---------- APA ----------
Simon, J.M. & Lemmi, C.C. (1990) . Interferometers: Equivalent sine condition and pseudoholographic properties. Applied Optics, 29(13), 1868-1869.http://dx.doi.org/10.1364/AO.29.001868
---------- CHICAGO ----------
Simon, J.M., Lemmi, C.C. "Interferometers: Equivalent sine condition and pseudoholographic properties" . Applied Optics 29, no. 13 (1990) : 1868-1869.http://dx.doi.org/10.1364/AO.29.001868
---------- MLA ----------
Simon, J.M., Lemmi, C.C. "Interferometers: Equivalent sine condition and pseudoholographic properties" . Applied Optics, vol. 29, no. 13, 1990, pp. 1868-1869.http://dx.doi.org/10.1364/AO.29.001868
---------- VANCOUVER ----------
Simon, J.M., Lemmi, C.C. Interferometers: Equivalent sine condition and pseudoholographic properties. Appl. Opt. 1990;29(13):1868-1869.http://dx.doi.org/10.1364/AO.29.001868
