Strong oscillations detected by picosecond ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Strong oscillations detected by picosecond ultrasonics in silicon : evidence for an electronic structure effect
Auteur(s) :
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cote, R. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cote, R. [Auteur]
Titre de la revue :
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015)
Pagination :
125208-1-6
Éditeur :
American Physical Society
Date de publication :
2004
ISSN :
1098-0121
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :