Penelope: The NBTI-aware processor
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/101308
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2007
EditorIEEE Computer Society
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Transistors consist of lower number of atoms with every technology generation. Such atoms may be displaced due to the stress caused by high temperature, frequency and current, leading to failures. NBTI (negative bias temperature instability) is one of the most important sources of failure affecting transistors. NBTI degrades PMOS transistors whenever the voltage at the gate is negative (logic input
CitacióAbella, J., Vera, X., González, A. Penelope: The NBTI-aware processor. A: Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture. "Proceedings of the 40th Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture". Chicago, IL: IEEE Computer Society, 2007, p. 85-96.
ISBN0-7695-3047-8
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/document/4408247/
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
04408247.pdf | 399,1Kb | Visualitza/Obre |