Noise generation and coupling mechanisms in deep-submicron IC's
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/9453
Tipus de documentArticle
Data publicació2002-09
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
On-chip noise generation and coupling is an
important issue in deep-submicron technologies.
Advanced IC technology faces new challenges to
ensure function and performance integrity.
Selecting adequate test techniques depends on
the circuit, its implementation, and the possible
physical failures and parasitic coupling models.
This new demand for test technology practices
precipitated the investigation of dI/dt and dV/dt
noise generation and propagation mechanisms.
CitacióAragones, X. [et al.]. Noise generation and coupling mechanisms in deep-submicron IC's. "IEEE design and test of computers", Setembre 2002, vol. 19, núm. 5, p. 27-35.
ISSN0740-7475
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
6BD9240Bd01.pdf | Entrar dades des de drac a e-print | 141,0Kb | Visualitza/Obre |