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| タイトル: | Multi layer nano-thickness measurement by a portable low-power Bremsstrahlung X-ray reflectometer |
| 著者: | Alshehabi, Abbas Kunimura, Shinsuke Kawai, Jun   https://orcid.org/0000-0002-1289-7666 (unconfirmed) |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | ROYAL SOC CHEMISTRY |
| 誌名: | ANALYTICAL METHODS |
| 巻: | 2 |
| 号: | 10 |
| 開始ページ: | 1555 |
| 終了ページ: | 1558 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146720 |
| DOI(出版社版): | 10.1039/c0ay00216j |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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