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| タイトル: | Evaluation of interface strength of micro-dot on substrate by means of AFM |
| 著者: | Hirakata, H  Kitamura, T Yamamoto, Y |
| キーワード: | delamination micro-dot atomic force microscopy interface strength micro-material micro-mechanics |
| 発行日: | 2004 |
| 出版者: | PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD |
| 誌名: | INTERNATIONAL JOURNAL OF SOLIDS AND STRUCTURES |
| 巻: | 41 |
| 号: | 11-12 |
| 開始ページ: | 3243 |
| 終了ページ: | 3253 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/3889 |
| DOI(出版社版): | 10.1016/j.ijsolstr.2004.01.011 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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