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タイトル: Dependence of critical current on sample length analyzed by the variation of local critical current bent of BSCCO superconducting composite tape
著者: Matsubayashi, H
Mukai, Y
Shin, JK
Ochiai, S  KAKEN_id
Okuda, H  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0001-7866-4876 (unconfirmed)
Osamura, K
Otto, A
Malozemofff, A
キーワード: BSCCO tape
critical current
bending
sample length
発行日: 2008
出版者: ELSEVIER SCIENCE BV
誌名: PHYSICA C-SUPERCONDUCTIVITY AND ITS APPLICATIONS
巻: 468
号: 15-20
開始ページ: 1775
終了ページ: 1778
URI: http://hdl.handle.net/2433/79060
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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