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| タイトル: | Application of grazing-incidence small-angle X-ray scattering technique to semiconducting composite materials |
| 著者: | Ogawa, T Niwa, H Okuda, H    https://orcid.org/0000-0001-7866-4876 (unconfirmed)Ochiai, S |
| キーワード: | quantum dots GI-SAXS Si-Ge |
| 発行日: | 2005 |
| 出版者: | TRANS TECH PUBLICATIONS LTD |
| 誌名: | PRICM 5: THE FIFTH PACIFIC RIM INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED MATERIALS AND PROCESSING, PTS 1-5 |
| 巻: | 475-479 |
| 開始ページ: | 1097 |
| 終了ページ: | 1100 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/8852 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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