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D-MS. 博士（マテリアルサイエンス）・博士（材料科学） >
D-MS. 2016年度(H28) >
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http://hdl.handle.net/10119/13723
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| タイトル: | チャージアンプを組み込んだ非接触原子間力顕微鏡による固体表面の電子状態解析 |
| 著者: | 野上, 真 |
| 著者（別表記）: | のがみ, まこと |
| キーワード: | charge amplifier
CTS
CPD
nc-AFM
charge transfer |
| 発行日: | Jun-2016 |
| 記述: | Supervisor:富取 正彦
マテリアルサイエンス研究科
博士 |
| タイトル（英語）: | Analysis of the surface electronic states using a charge amplifier powered by non-contact atomic force microscopy |
| 著者（英語）: | Nogami, Makoto |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/13723 |
| 学位授与番号: | 甲第932号 |
| 学位授与年月日: | 2016-06-24 |
| 学位名: | 博士（マテリアルサイエンス） |
| 学位授与機関: | 北陸先端科学技術大学院大学 |
| 出現コレクション: | D-MS. 2016年度(H28) (Jun.2016 - Mar.2017)
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このアイテムのファイル:
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記述 |
サイズ | 形式 |
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| abstract.pdf | 英文要旨 | 64Kb | Adobe PDF | 見る/開く | | paper.pdf | 本文 | 5701Kb | Adobe PDF | 見る/開く | | summary.pdf | 内容の要旨及び論文審査の結果の要旨 | 266Kb | Adobe PDF | 見る/開く |
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