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M-MS. 修士（マテリアルサイエンス）・修士（材料科学） >
M-MS. 2017年度(H29) >
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http://hdl.handle.net/10119/15227
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| タイトル: | フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析法を用いた有機EL素子の劣化解析 |
| 著者: | 重松, 沙樹 |
| 著者（別表記）: | しげまつ, さき |
| キーワード: | 有機EL素子
OLED
FT-ICR-MSI
劣化解析
Degradation analysis |
| 発行日: | Mar-2018 |
| 記述: | Supervisor: 村田 英幸
先端科学技術研究科
修士(マテリアルサイエンス) |
| タイトル（英語）: | Detection of degradation products of OLED by Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Mass Spectrometry |
| 著者（英語）: | Shigematsu, Saki |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/15227 |
| 出現コレクション: | M-MS. 2017年度(H29) (Jun.2017 - Mar.2018)
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