Determination of Image Aberrations in High-resolution Electron Microscopy using 
Diffractogram and Cross-correlation Methods

Typke, D.; Dierksen, K.

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

Determination of Image Aberrations in High-resolution Electron Microscopy using Diffractogram and Cross-correlation Methods

MPG-Autoren

Es sind keine MPG-Autoren in der Publikation vorhanden

Externe Ressourcen

Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt

Volltexte (beschränkter Zugriff)

Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.

Volltexte (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar

Ergänzendes Material (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar

Zitation

Typke, D., & Dierksen, K. (1995). Determination of Image Aberrations in High-resolution Electron Microscopy using Diffractogram and Cross-correlation Methods. Optik, 99, 155-166.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-7359-C

Zusammenfassung

Es ist keine Zusammenfassung verfügbar