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Vortrag

Numerical simulation of probing the electric double layer by scanning electrochemical Potential microscopy

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125166

Hamou,  R. F.
Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Biedermann,  P. U.
Atomistic Modelling, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125132

Erbe,  A.
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125346

Rohwerder,  M.
Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;
Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Hamou, R. F., Biedermann, P. U., Erbe, A., & Rohwerder, M. (2010). Numerical simulation of probing the electric double layer by scanning electrochemical Potential microscopy. Talk presented at 217th ECS Meeting. Vancouver, Canada. 2010-04-25 - 2010-04-30.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3976-0
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