El fosfuro de indio obtenido por electrodeposición sobre distintos substratos fue caracterizado teniendo en cuenta la morfología y la composición. Se observaron diversas morfologías en los depósitos, tales como películas delgadas y pequeños cristales aislados. La formación depende de la naturaleza del material del substrato. Los materiales utilizados como substratos en estos experimentos fueron titanio, silicio y grafito. Los espesores de las películas de fosfuro de indio fueron determinados a partir de mediciones de las concentraciones atómicas normalizadas. Los espesores calculados utilizando esta técnica estuvieron en muy buena concordancia con los resultados obtenidos por métodos interferométricos. La técnica es no destructiva y puede ser aplicable a películas opacas y a substratos no reflectantes. En el presente trabajo se presenta el modelo empleado para el cálculo de los espesores de películas delgadas, y además, los resultados obtenidos son discutidos y comparados con los determinados mediante otras técnicas.
Electrodeposited Indium Phosphide on various substrate materials were characterized focusing on morphology and composition. The observed morphologies were thin films and isolated small crystals. The formation of either or both depended on the nature of the substrate material. The materials used in these experiments were Titanium, Silicon and Graphite. The thickness of the deposited Indium Phosphide were determined from normalized atomic concentration measurements. The calculated thickness using this technique was in very good agreement with the results obtained using interferometric methods in those applicable cases. The technique is non destructive and may be applied to opaque films or non reflectant substrates. In the present work the model employed for the calculation and the results are presented, discussed and compared with other techniques.
| Título: | Espesores de películas de fosfuro de indio electrodepositadas calculados a partir de mediciones de concentración atómica normalizada |
| Autor: | Gueijman, Sergio Fabián; Schvezov, Carlos Enrique; Lamagna, Alberto |
| Fecha: | 1997 |
| Título revista: | Anales AFA |
| Editor: | Asociación Física Argentina |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v09_n01_p168 |
| Ciudad: | Villa Martelli, Buenos Aires |
| Idioma: | Español |
| Año: | 1997 |
| Volumen: | 09 |
| Número: | 01 |
| Título revista abreviado: | An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) |
| ISSN: | 1850-1168 |
| Formato: | |
| PDF: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v09_n01_p168.pdf |
| Registro: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v09_n01_p168 |
