Orientador: Jaime Frejlich

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin

Resumo: Neste trabalho descrevemos métodos holográficos para a caracterização de cristais fotorrefrativos do tipo Bi12SiO20. Foram aplicadas as técnicas de modulação de fase do feixe laser e de detecção sincrônica para medir a diferença de fase entre o padrão de interferência luminoso e a rede...

Resumo: Neste trabalho descrevemos métodos holográficos para a caracterização de cristais fotorrefrativos do tipo Bi12SiO20. Foram aplicadas as técnicas de modulação de fase do feixe laser e de detecção sincrônica para medir a diferença de fase entre o padrão de interferência luminoso e a rede holográfica gerada por efeito fotorrefrativo. Essas técnicas permitiram operar uma montagem experimental estabilizada, verificar a existência dos hologramas "caminhantes" e medir sua velocidade de deslocamento nesses cristais. A fase e a velocidade do holograma são informações relevantes em experimentos envolvendo a mistura de duas ondas, e foram usados para avaliar parâmetros de transporte desses cristais

Abstract: We describe holographic methods for the characterization of Bi12SiO20 - type photorefractive crystals. Laser beam phase modulation and synchronous detection techniques were used to measure the phase-shift between the interference patern of light and the generated photorefractive...

Abstract: We describe holographic methods for the characterization of Bi12SiO20 - type photorefractive crystals. Laser beam phase modulation and synchronous detection techniques were used to measure the phase-shift between the interference patern of light and the generated photorefractive holographic grating. These techniques allowed to operate a stabilized holographic setup, to verify the presence of running holograms and to measure their velocity in these crystals. Phase-shift and running hologram velocity are relevant informations for many aplications involving two-wave mixing experiments, and were used for computing transport parameters of these materials