Leenen, M. A. M.; Arning, V.; Thiem, H.; Steiger, J.; Anselmann, R. Phys. Status Solidi A 2009, 206, 588-597.
See Handbook of Organic Electronics and Photonics; Nalwa, H. S., Ed; American Scientific Publishing: Stevenson Ranch, CA, 2008; ISBN: 978-1-58883-095-5, for a complete overview of the state-of-the-art of current research in all areas of organic electronics.
Zaumseil, J.; Sirringhaus, H. Chem. Rev. 2007, 107, 1296-1323.
Allard, S.; Forster, M.; Souharce, B.; Thiem, H.; Scherf, U. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47, 4070-4098.
McCulloch, I.; Heeney, M.; Bailey, C.; Genevicius, K.; Macdonald, I.; Shkunov, M.; Sparrowe, D.; Tierney, S.; Wagner, R.; Zhang, W.; Chabinyc, M. L.; Kline, R. J.; McGehee, M. D.; Toney, M. J. Nat. Mater. 2006, 5, 328-333.
Milián Medina, B.; Van Vooren, A.; Brocorens, P.; Gierschner, J.; Shkunov, M.; Heeney, M.; McCulloch, I.; Lazzaroni, R.; Cornil, J. Chem. Mater. 2007, 19, 4949-4956.
Ebata, H.; Izawa, T.; Miyazaki, E.; Takimiya, K.; Ikeda, M.; Kuwabara, H.; Yui, T. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 15732-15733.
Park, S. K.; Jackson, T. N.; Anthony, J. E.; Mourey, D. A. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 063514.
Subramanian, S.; Park, S. K.; Parkin, S. R.; Podzorov, V.; Jackson, T. N.; Anthony, J. E. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 2706-2707.
Tsao, H. N.; Cho, D.; Andreasen, J. W.; Rouhanipour, A.; Breiby, D. W.; Pisula, W.; Müllen, K. Adv. Mater: 2009, 21, 209-212.
Gao, P.; Beckmann, D.; Tsao, H. N.; Feng, X.; Enkelmann, V.; Baumgarten, M.; Pisula, W.; Müllen, K. Adv. Mater: 2009, 21, 213-216.
Katz, H. E.; Bao, Z.; Gilat, S. L. Acc. Chem. Res. 2001, 34, 359-369.
Takimiya, K.; Kunugi, Y.; Otsubo, T. Chem. Lett. 2007, 36, 578-583.
Kashiki, T.; Miyazaki, E.; Takimiya, K. Chem. Lett. 2008, 37, 284-285
Pan, H.; Li, Y.; Wu, Y.; Liu, P.; Ong, B. S.; Zhu, S.; Xu, G. Chem. Mater. 2006, 18, 3237-3241.
Funahashi, M.; Hanna, J. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2574-2576.
Van Breemen, A. J. J. M.; Herwig, P. T.; Chlon, C. H. T.; Sweelssen, J.; Schoo, H. F. M.; Setayesh, S.; Hardeman, W. M.; Martin, C. A.; De Leeuw, D. M.; Valeton, J. J. P.; Bastiaansen, C. W. M.; Broer, D. J.; Popa-Merticaru, A. R.; Meskers, S. C. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 2336-2345.
Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Kiene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; LiashenkovA.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
Pisula, W.; Tomovic, Z.; Simpson, C.; Kastler, M.; Pakula, T.; Müllen, K. Chem. Mater. 2005, 17, 4296-4303.
More examples from recent literature are, for example, Usta, H.; Risko, C.; Wang, Z.; Huang, H.; Deliomeroglu, M. K.; Zhukhovitskiy, A.; Facchetti, A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 5586-5608, p. 5599.
Gao, P.; Beckmann, D.; Tsao, H. N.; Feng, X.; Enkelmann, V.; Baumgarten, M.; Pisula, W.; Müllen, K. Adv. Mater. 2009, 21, 213-216.
Zoombelt, A. P.; Fonrodona, M.; Wienk, M. M.; Sieval, A. B.; Hummelen, J. C.; Janssen, R. A. J. Org. Lett. 2009, 11, 903-906.
Liu, J.; Zhang, R.; Sauvé, G.; Kowalewski, T.; McCullough, R. D. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 13167-13176.
Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical methods, fundamentals and applications, 2nd ed.; John Wiley & Sons, Inc.: New York, 2001.
Koepp, H.-M.; Wendt, H.; Strehlow, H. Z. Elektrochem. Angew. Phys. Chem. 1960, 64, 483-491.
Pommerehne, J.; Vestweber, H.; Guss, W.; Mark, R. F.; Bässler, H.; Porsch, M.; Daub, J. Adv. Mater. 1995, 7, 551-554.
Wex, B.; Kaafarani, B. R.; Danilov, E. O.; Neckers, D. C J. Phys. Chem. A 2006, 110, 13754-13758.
Casado, J.; Oliva, M. M.; Delgado, M. C. R.; Ortiz, R. P.; Quirante, J. J.; Navarrete, J. T. L.; Takimiya, K.; Otsubo, T. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 7422-7430.
Coropceanu, V.; Kwon, O.; Wex, B.; Kaafarani, B. R.; Gruhn, N. E.; Durivage, J. C.; Neckers, D. C.; Brédas, J. L. Chem-Eur. J. 2006, 12, 2073-2080.
Kasha, M. J. Chem. Phys. 1952, 20, 1-74.
Gierschner, J.; Ehni, M.; Egelhaaf, H.-J.; Milián Medina, B.; Beljonne, D.; Benmansour, H.; Bazan, G. C. J. Chem. Phys. 2005, 123, 144914.
Sergeyev, S.; Pisula, W.; Geerts, Y. H. Chem. Soc. Rev. 2007, 36, 1902-1929.
Percee, V.; Imam, M. R.; Peterca, M.; Wilson, D. A.; Graf, R.; Spiess, H. W.; Balagurusamy, V. S. K.; Heiney, P. A. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 7662-7677.
Ahmed, M. O.; Wang, C.; Keg, P.; Pisula, W.; Lam, Y.-M.; Ong, B. S.; Ng, S.-C.; Chen, Z.-K.; Mhaisalkar, S. G. J. Mater: Chem. 2009, 19, 3449-3456.
