Formanek, H.; Müller, M.; Hahn, M. H.; Koller, T. Naturwissenschaften 1971, 58, 339. doi:10.1007/BF00602786
Ottensmeyer, F. P.; Schmidt, E. E.; Jack, T.; Powell, J. J. Ultrastruct. Res. 1972, 40, 546. doi:10.1016/S0022-5320(72)80042-X
Creewe, A. V.; Wall, J.; Langmore, J. Science 1970, 168, 1338. doi:10.1126/science.168.3937.1338
Hashimot, H.; Kumao, A.; Hino, K.; Yotsumot, H.; Ono, A. Jpn. J. Appl. Phys. 1971, 10, 1115. doi:10.1143/JJAP.10.1115
Haider, M.; Uhlemann, S.; Schwan, E.; Rose, H.; Kabius, B.; Urban, K. Nature 1998, 392, 768-769. doi:10.1038/33823
Rose, H.; Wan, W. In Proceedings of the 2005 Particle Accelerator Conference, Knoxville, TN, United States of America, May 16-20, 2005; Horak, C., Ed.; IEEE: Piscataway, NJ, United States of America, 2005; pp 44-48.
Xin, H. L. L.; Muller, D. A. Microsc. Microanal. 2009, 15 (Suppl. S2), 1474. doi:10.1017/S1431927609095622
Takeguchi, M.; Hashimoto, A.; Shimojo, M.; Mitsuishi, K.; Furuya, K. J. Electron Microsc. 2008, 57, 123. doi:10.1093/jmicro/dfn010
Mook, H. W.; Kruit, P. Ultramicroscopy 2000, 81, 129. doi:10.1016/S0304-3991(99)00193-X
Tsuno, K. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 2011, 645, 12. doi:10.1016/j.nima.2010.12.164
Krivanek, O. L.; Ursin, J. P.; Bacon, N. J.; Corbin, G. J.; Dellby, N.; Hrncirik, P.; Murfitt, M. F.; Own, C. S.; Szilagyi, Z. S. Philos. Trans. R. Soc., A 2009, 367, 3683.
Kaiser, U.; Biskupek, J.; Meyer, J. C.; Leschner, J.; Lechner, L.; Rose, H.; StÖger-Pollach, M.; Khlobystov, A. N.; Hartel, P.; Müller, H.; Haider, M.; Eyhusen, S.; Benner, G. Ultramicroscopy 2011, 111, 1239-1246. doi:10.1016/j.ultramic.2011.03.012
Vajtai, R. Science and Engineering of Nanomaterials. In Springer Handbook of Nanomaterials; Vajtai, R., Ed.; Springer: Berlin, Germany, 2013; pp 1-36. doi:10.1007/978-3-642-20595-8_1
Patel, T. New Sci. 1996, 151, 32-35.
Brady, R. F., Jr. Twenty-first century materials: coatings that interact with their environment. In Smart Coatings; Provder, T.; Baghdachi, J., Eds.; ACS Symposium Series, Vol. 957; ACS Publication: Washington, DC, USA, 2007; pp 3-11. doi:10.1021/bk-2007-0957.ch001
Swider, J. R.; Hackley, V. A.; Winter, J. J. Cult. Heritage 2003, 4, 175-186. doi:10.1016/S1296-2074(03)00044-X
Iijima, S. Nature 1991, 354, 56-58. doi:10.1038/354056a0
Reibold, M.; Paufler, P.; Levin, A. A.; Kochmann, W.; Pätzke, N.; Meyer, D. C. Nature 2006, 444, 286. doi:10.1038/444286a
Reibold, M.; Pätzke, N.; Levin, A. A.; Kochmann, W.; Shakhverdova, I. P.; Paufler, P.; Meyer, D. C. Cryst. Res. Technol. 2009, 44, 1139-1146. doi:10.1002/crat.200900445
Eletskii, A. V. Phys.-Usp. 2007, 50, 225-261. doi:10.1070/PU2007v050n03ABEH006188
Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306, 666-669. doi:10.1126/science.1102896
Van Tendeloo, G.; Bals, S.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.; Van Dyck, D. Adv. Mater. 2012, 24, 5655-5675. doi:10.1002/adma.201202107
Erni, R. Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy: An introduction; Imperial College Press: London, United Kingdom. doi:10.1142/p703
Williams, D. B.; Carter, C. B. Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science; Plenum Press: Berlin, Germany, 1996. doi:10.1007/978-1-4757-2519-3
Lentzen, M. Microsc. Microanal. 2008, 14, 16-26. doi:10.1017/S1431927608080045
Tiemeijer, P. C.; Bischoff, M.; Freitag, B.; Kisielowski, C. Ultramicroscopy 2012, 114, 72-81. doi:10.1016/j.ultramic.2012.01.008
Bjorkman, T.; Kurasch, S.; Lehtinen, O.; Kotakoski, J.; Yazyev, O. V.; Srivastava, A.; Skakalova, V.; Smet, J. H.; Kaiser, U.; Krasheninnikov, A. V. Sci. Rep. 2013, 3, No. 3482. doi:10.1038/srep03482
Suenaga, K.; Koshino, M. Nature 2010, 468, 1088-1090. doi:10.1038/nature09664
Konno, M.; Ogashiwa, T.; Sunaoshi, T.; Orai, Y.; Sato, M. Ultramicroscopy 2014, 145, 28-35. doi:10.1016/j.ultramic.2013.09.001
Krivanek, O. L.; Lovejoy, T. C.; Dellby, N.; Aoki, T.; Carpenter, R. W.; Rez, P.; Soignard, E.; Zhu, J.; Batson, P. E.; Lagos, M. J.; Egerton, R. F.; Crozier, P. A. Nature 2014, 514, 209-212. doi:10.1038/nature13870
Zobelli, A.; Gloter, A.; Ewels, C. P.; Seifert, G.; Colliex, C. Phys. Rev. B 2007, 75, 245402. doi:10.1103/PhysRevB.75.245402
Banhart, F.; Li, J. X.; Krasheninnikov, A. V. Phys. Rev. B 2005, 71, 241408. doi:10.1103/PhysRevB.71.241408
Zubeltzu, J.; Chuvilin, A.; Corsetti, F.; Zurutuza, A.; Artacho, E. Phys. Rev. B 2013, 88, 245407. doi:10.1103/PhysRevB.88.245407
Meyer, J. C.; Eder, F.; Kurasch, S.; Skakalova, V.; Kotakoski, J.; Park, H. J.; Roth, S.; Chuvilin, A.; Eyhusen, S.; Benner, G.; Krasheninnikov, A. V.; Kaiser, U. Phys. Rev. Lett. 2012, 108, 196102. doi:10.1103/PhysRevLett.108.196102
Eder, F. R.; Kotakoski, J.; Kaiser, U.; Meyer, J. C. Sci. Rep. 2014, 4, No. 4060. doi:10.1038/srep04060
Meyer, J. C.; Kisielowski, C.; Erni, R.; Rossell, M. D.; Crommie, M. F.; Zettl, A. Nano Lett. 2008, 8, 3582-3586. doi:10.1021/nl801386m
Santana, A.; Zobelli, A.; Kotakoski, J.; Chuvilin, A.; Bichoutskaia, E. Phys. Rev. B 2013, 87, 094110. doi:10.1103/PhysRevB.87.094110
Kotakoski, J.; Santos-Cottin, D.; Krasheninnikov, A. V. ACS Nano 2012, 6, 671-676. doi:10.1021/nn204148h
Molhave, K.; Gudnason, S. B.; Pedersen, A. T.; Clausen, C. H.; Horsewell, A.; Boggild, P. Ultramicroscopy 2007, 108, 52-57. doi:10.1016/j.ultramic.2007.03.001
Crespi, V. H.; Chopra, N. G.; Cohen, M. L.; Zettl, A.; Louie, S. G. Phys. Rev. B 1996, 54, 5927. doi:10.1103/PhysRevB.54.5927
Zobelli, A.; Gloter, A.; Ewels, C. P.; Colliex, C. Phys. Rev. B 2008, 77, 045410. doi:10.1103/PhysRevB.77.045410
Krasheninnikov, A. V.; Banhart, F. Nat. Mater. 2007, 6, 723-733. doi:10.1038/nmat1996
Kotakoski, J.; Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K. Phys. Rev. B 2006, 74, 245420. doi:10.1103/PhysRevB.74.245420
Lee, G.-D.; Wang, C. Z.; Yoon, E.; Hwang, N.-M.; Kim, D.-Y.; Ho, K. M. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 205501. doi:10.1103/PhysRevLett.95.205501
Egerton, R. F.; Li, P.; Malac, M. Micron 2004, 35, 399-409. doi:10.1016/j.micron.2004.02.003
Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2004, 216, 355-366. doi:10.1016/j.nimb.2003.11.061
Balandin, A. A.; Ghosh, S.; Bao, W.; Calizo, I.; Teweldebrhan, D.; Miao, F.; Lau, C. N. Nano Lett. 2008, 8, 902. doi:10.1021/nl0731872
Jinschek, J. R.; Yucelen, E.; Calderon, H. A.; Freitag, B. Carbon 2011, 49, 556. doi:10.1016/j.carbon.2010.09.058
Girit, Ç. Ö.; Meyer, J. C.; Erni, R.; Rossell, M. D.; Kisielowski, C.; Yang, L.; Park, C.-H.; Crommie, M. F.; Cohen, M. L.; Louie, S. G.; Zettl, A. Science 2009, 323, 1705-1708. doi:10.1126/science.1166999
Warner, J. H.; Rümmeli, M. H.; Ge, L.; Gemmling, T.; Montanari, B.; Harrison, N. M.; Büchner, B.; Briggs, G. A. D. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 500-504. doi:10.1038/nnano.2009.194
Armstrong, M. R.; Boyden, K.; Browning, N. D.; Campbell, G. H.; Colvin, J. D.; De Hope, W. J.; Frank, A. M.; Gibson, D. J.; Hartemann, F.; Kim, J. S.; King, W. E.; La Grange, T. B.; Pyke, B. J.; Reed, B. W.; Shuttlesworth, R. M.; Stuart, B. C.; Torralva, B. R. Ultramicroscopy 2007, 107, 356-367. doi:10.1016/j.ultramic.2006.09.005
Baskin, J. S.; Zewail, A. H. C. R. Phys. 2014, 15, 176-189. doi:10.1016/j.crhy.2013.11.002
Browning, N. D.; Bonds, M. A.; Campbell, G. H.; Evans, J. E.; LaGrange, T.; Jungjohann, K. L.; Masiel, D. J.; Mckeown, J.; Mehraeen, S.; Reed, B. W.; Santala, M. Curr. Opin. Solid State Mater. Sci. 2012, 16, 23-30. doi:10.1016/j.cossms.2011.07.001
Campbell, G. H.; McKeown, J. T.; Santala, M. K. Appl. Phys. Rev. 2014, 1, 041101. doi:10.1063/1.4900509
Bernaerts, D.; Amelinckx, S.; Van Tendeloo, G.; Van Landuyt, J. J. Phys. Chem. Solids 1997, 58, 1807-1813. doi:10.1016/S0022-3697(98)80003-6
Bernaerts, D.; Op de Beeck, M.; Amelinckx, S.; Van Landuyt, J.; Van Tendeloo, G. Philos. Mag. A 1996, 74, 723-740. doi:10.1080/01418619608243538
Meyer, R. R.; Friedrichs, S.; Kirkland, A. L.; Sloan, J.; Hutchison, J. L.; Green, M. L. J. J. Microsc. (Oxford, U. K.) 2003, 212 (Pt 2), 152-157. doi:10.1046/j.1365-2818.2003.01240.x
Warner, J. H.; Young, N. P.; Kirkland, A. I.; Briggs, G. A. D. Nat. Mater. 2011, 10, 958-962. doi:10.1038/nmat3125
Fthenakis, Z. G.; Zhu, Z.; Tománek, D. Phys. Rev. B 2014, 89, 125421. doi:10.1103/PhysRevB.89.125421
Huang, P. Y.; Ruiz-Vargas, C. S.; Van der Zande, A. M.; Whitney, W. S.; Levendorf, M. P.; Kevek, J. W.; Garg, S.; Alden, J. S.; Hustedt, C. J.; Zhu, Y.; Park, J.; McEuen, P. L.; Muller, D. A. Nature 2011, 469, 389-392. doi:10.1038/nature09718
Lee, G.-W.; Cooper, R. C.; An, S. J.; Lee, S.; Van der Zande, A.; Petrone, N.; Hammerberg, A. G.; Lee, C.; Crawford, B.; Oliver, W.; Kysar, J. W.; Hone, J. Science 2013, 340, 1073-1076. doi:10.1126/science.1235126
Loh, O. Y.; Espinosa, H. D. Nat. Nanotechnol. 2012, 7, 283-295. doi:10.1038/nnano.2012.40
Bianco, A.; Kostarelos, K.; Prato, M. Expert Opin. Drug Delivery 2008, 5, 331-342.
Wang, J. T.-W.; Cabana, L.; Bourgognon, M.; Kafa, H.; Protti, A.; Venner, K.; Shah, A. M.; Sosabowski, J. K.; Mather, S. J.; Roig, A.; Ke, X.; Van Tendeloo, G.; de Rosales, R. T. M.; Tobias, G.; Al-Jamal, K. T. Adv. Funct. Mater. 2014, 24, 1880-1894. doi:10.1002/adfm.201302892
Felten, A.; Suarez-Martinez, I.; Ke, X.; Van Tendeloo, G.; Ghijsen, J.; Pireaux, J.-J.; Drube, W.; Bittencourt, C.; Ewels, C. P. ChemPhysChem 2009, 10, 1799-1804. doi:10.1002/cphc.200900193
Hao, L.; Jiao, Q.; Hu, Y.; Li, H.; Zhao, Y. Micro Nano Lett. 2014, 9, 97-99. doi:10.1049/mnl.2013.0624
Ma, L.; Zhang, H. M.; Liang, Y. M.; Xu, D. Y.; Ye, W.; Zhang, J. L.; Yi, B. L. Catal. Commun. 2007, 8, 921-925. doi:10.1016/j.catcom.2006.09.024
Suarez-Martinez, I.; Bittencourt, C.; Ke, X.; Felten, A.; Pireaux, J. J.; Ghijsen, J.; Drube, W.; VanTendeloo, G.; Ewels, C. P. Carbon 2009, 47, 1549-1554. doi:10.1016/j.carbon.2009.02.002
Bittencourt, C.; Hecq, M.; Felten, A.; Pireaux, J. J.; Ghijsen, J.; Felicissimo, M. P.; Rudolf, P.; Drube, W.; Ke, X.; Van Tendeloo, G. Chem. Phys. Lett. 2008, 462, 260-264. doi:10.1016/j.cplett.2008.07.082
Quintana, M.; Ke, X.; Van Tendeloo, G.; Meneghetti, M.; Bittencourt, C.; Prato, M. ACS Nano 2010, 4, 6105-6113. doi:10.1021/nn101183y
Suarez-Martinez, I.; Ewels, C. P.; Ke, X.; Van Tendeloo, G.; Thiess, S.; Drube, W.; Felten, A.; Pireaux, J. J.; Ghijsen, J.; Bittencourt, C. ACS Nano 2010, 4, 1680-1686. doi:10.1021/nn9015955
Bittencourt, C.; Ke, X.; Van Tendeloo, G.; Thiess, S.; Drube, W.; Ghijsen, J.; Ewels, C. P. Chem. Phys. Lett. 2012, 535, 80-83. doi:10.1016/j.cplett.2012.03.045
Adjizian, J. J.; De Marco, P.; Suarez-Martinez, I.; El Mel, A. A.; Snyders, R.; Gengler, R. Y. N.; Rudolf, P.; Ke, X.; Van Tendeloo, G.; Bittencourt, C.; Ewels, C. P. Chem. Phys. Lett. 2013, 571, 44-48. doi:10.1016/j.cplett.2013.03.079
Britz, D. A.; Khlobystov, A. N.; Porfyrakis, K.; Ardavan, A.; Briggs, G. A. D. Chem. Commun. 2005, 37-39. doi:10.1039/b414247k
Chamberlain, T. W.; Meyer, J. C.; Biskupek, J.; Leschner, J.; Santana, A.; Besley, N. A.; Bichoutskaia, E.; Kaiser, U.; Khlobystov, A. N. Nat. Chem. 2011, 3, 732-737. doi:10.1038/nchem.1115
Zoberbier, T.; Chamberlain, T. W.; Biskupek, J.; Kuganathan, N.; Eyhusen, S.; Bichoutskaia, E.; Kaiser, U.; Khlobystov, A. N. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 3073-3079. doi:10.1021/ja208746z
Scarselli, M.; Camilli, L.; Persichetti, L.; Castrucci, P.; Lefrant, S.; Gautron, E.; De Crescenzi, M. Carbon 2012, 50, 3616-3621. doi:10.1016/j.carbon.2012.03.032
Midgley, P. A.; Weyland, M. Ultramicroscopy 2003, 96, 413-431. doi:10.1016/S0304-3991(03)00105-0
Ke, X.; Bals, S.; Cott, D.; Hantschel, T.; Bender, H.; Van Tendeloo, G. Microsc. Microanal. 2010, 16, 210-217. doi:10.1017/S1431927609991371
Goris, B.; Roelandts, T.; Batenburg, K. J.; Heidari Mezerji, H.; Bals, S. Ultramicroscopy 2013, 127, 40-47. doi:10.1016/j.ultramic.2012.07.003
Cha, J. J.; Welyand, M.; Briere, J.-F.; Daykov, I. P.; Arias, T. A.; Muller, D. A. Nano Lett. 2007, 7, 3770-3773. doi:10.1021/nl072251c
Goris, B.; Bals, S.; Van den Broek, W.; CarbÓ-Argibay, E.; GÓmez-Graña, S.; Liz-Marzán, L. M.; Van Tendeloo, G. Nat. Mater. 2012, 11, 930-934. doi:10.1038/nmat3462
Ke, X.; Bittencourt, C.; Bals, S.; Van Tendeloo, G. Beilstein J. Nanotechnol. 2013, 4, 77-86. doi:10.3762/bjnano.4.9
Tan, H.; Turner, S.; Yücelen, E.; Verbeeck, J.; Van Tendeloo, G. Phys. Rev. Lett. 2011, 107, 107602. doi:10.1103/PhysRevLett.107.107602
Tian, H.; Verbeeck, J.; Brück, S.; Paul, M.; Kufer, D.; Sing, M.; Claessen, R.; Van Tendeloo, G. Adv. Mater. 2014, 26, 461-465. doi:10.1002/adma.201303329
Guttmann, P.; Bittencourt, C.; Rehbein, S.; Umek, P.; Ke, X.; Van Tendeloo, G.; Ewels, C. P.; Schneider, G. Nat. Photonics 2012, 6, 25-29. doi:10.1038/nphoton.2011.268
Sawada, H.; Tanishiro, Y.; Ohashi, N.; Tomita, T.; Hosokawa, F.; Kaneyama, T.; Kondo, Y.; Takayanagi, K. J. Electron Microsc. 2009, 58, 357. doi:10.1093/jmicro/dfp030
Dellby, N.; Bacon, N. J.; Hrncirik, P.; Murfitt, M. F.; Skone, G. S.; Szilagyi, Z. S.; Krivanek, O. L. Eur. Phys. J.: Appl. Phys. 2011, 54, 33505. doi:10.1051/epjap/2011100429
Houdellier, F.; Masseboeuf, A. I.; Monthioux, M.; Hÿtch, M. J. Carbon 2012, 50, 2037. doi:10.1016/j.carbon.2012.01.023
Piston, D. W.; Kremers, G.-J.; Benninger, R. K. P.; Davidson, M. W. Microsc. Today 2009, 17, 8. doi:10.1017/S1551929509000194
Turner, S.; Shenderova, O.; Da Pieve, F.; Lu, Y.-g.; Yücelen, E.; Verbeeck, J.; Lamoen, D.; Van Tendeloo, G. Phys. Status Solidi A 2013, 210, 1976-1984. doi:10.1002/pssa.201300315
Nicholls, R. J.; Murdock, A. T.; Tsang, J.; Britton, J.; Pennycook, T. J.; Koós, A.; Nellist, P. D.; Grobert, N.; Yates, J. R. ACS Nano 2013, 7, 7145-7150. doi:10.1021/nn402489v
Arenal, R.; March, K.; Ewels, C. P.; Rocquefelte, X.; Kociak, M.; Loiseau, A.; Stéphan, O. Nano Lett. 2014, 14, 5509-5516. doi:10.1021/nl501645g
Ramasse, Q. M.; Seabourne, C. R.; Kepaptsoglou, D.-M.; Zan, R.; Bangert, U.; Scott, A. J. Nano Lett. 2013, 13, 4989-4995. doi:10.1021/nl304187e
Zhang, Y.; Utke, I.; Michler, J.; Ilari, G.; Rossell, M. D.; Erni, R. Beilstein J. Nanotechnol. 2014, 5, 946-955. doi:10.3762/bjnano.5.108
Erni, R.; Browning, N. D. Ultramicroscopy 2005, 10, 176-192. doi:10.1016/j.ultramic.2005.03.009
Eberlein, T.; Bangert, U.; Nair, R. R.; Jones, R.; Gass, M.; Bleloch, A. L.; Novoselov, K. S.; Geim, A.; Briddon, P. R. Phys. Rev. B 2008, 77, 233406. doi:10.1103/PhysRevB.77.233406
Gass, M. H.; Bangert, U.; Bleloch, A. L.; Wang, P.; Nair, R. R.; Geim, A. K. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 676-681. doi:10.1038/nnano.2008.280
Zhou, W.; Lee, J.; Nanda, J.; Pantelides, S. T.; Pennycook, S. J.; Idrobo, J.-C. Nat. Nanotechnol. 2012, 7, 161-165. doi:10.1038/nnano.2011.252
Nelson, F. J.; Idrobo, J.-C.; Fite, J. D.; Miškovic, Z. L.; Pennycook, S. J.; Pantelides, S. T.; Lee, J. U.; Diebold, A. C. Nano Lett. 2014, 14, 3827-3831. doi:10.1021/nl500969t
Goldberg, D.; Brando, Y. In-Situ TEM of Filled Nanotubes: Heating, Electron Irradiation, Electrical and Mechanical Probing. In In-situ Electron Microscopy at High Resolution; Banhart, F., Ed.; World Scientific Publishing Co Pte Ltd: Singapore, 2008. doi:10.1142/9789812797346_0006
Rodríguez-Manzo, J. A.; Terrones, M.; Terrones, H.; Kroti, H. W.; Sun, L.; Banhart, F. Nat. Nanotechnol. 2007, 2, 307-311. doi:10.1038/nnano.2007.107
Wang, S. J.; Wang, H.; Du, K.; Zhang, W.; Sui, M. L.; Mao, S. X. Nat. Commun. 2014, 5, No. 3433. doi:10.1038/ncomms4433
Li, B. Q.; Sui, M. L.; Li, B.; Ma, E.; Mao, S. X. Phys. Rev. Lett. 2009, 102, 205504. doi:10.1103/PhysRevLett.102.205504
Chuvilin, A.; Kaiser, U.; Bichoutskaia, E.; Besley, N. A.; Khlobystov, A. N. Nat. Chem. 2010, 2, 450-453. doi:10.1038/nchem.644
Sloan, J.; Liu, Z.; Suenaga, K.; Wilson, N. R.; Pandey, P. A.; Perkins, L. M.; Rourke, J. P.; Shannon, I. J. Nano Lett. 2010, 10, 4600-4606. doi:10.1021/nl1026452
Ke, X.; Turner, S.; Quintana, M.; Hadad, C.; Montellano-López, A.; Carraro, M.; Sartorel, A.; Bonchio, M.; Prato, M.; Bittencourt, C.; Van Tendeloo, G. Small 2013, 9, 3922-3927. doi:10.1002/smll.201300378
