Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und 
Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden

Dietrich, S.; Fantz, U.

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Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden

MPS-Authors

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Dietrich, S.
Tokamak: Edge and Divertor Physics (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons109061

Fantz, U.
Tokamak Scenario Development (E1), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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引用

Dietrich, S., & Fantz, U. (2007). Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden. Poster presented at DPG AMOP-Frühjahrstagung, Düsseldorf.

引用: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-197C-A

要旨

要旨はありません