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タイトル: Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits
その他のタイトル: バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
著者: Matsumoto, Takashi
著者名の別形: 松本, 高士
キーワード: CMOS
NBTI
RTN
combinational circuit
gate oxide
reliability
noise
発行日: 23-Mar-2015
出版者: 京都大学 (Kyoto University)
学位授与大学: 京都大学
学位の種類: 新制・課程博士
取得分野: 博士(情報学)
報告番号: 甲第19137号
学位記番号: 情博第583号
学位授与年月日: 2015-03-23
請求記号: 新制||情||102(附属図書館)
整理番号: 32088
研究科・専攻: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
論文調査委員: (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史
学位授与の要件: 学位規則第4条第1項該当
著作権等: 許諾条件により本文は2016/03/22に公開
©2012 IEEE, ©2013 IEEE, ©2014 IEEE, ©2011 Japan Soc. App. Phys., ©2012 Japan Soc. App. Phys., ©2013 Japan Soc. App. Phys.
DOI: 10.14989/doctor.k19137
URI: http://hdl.handle.net/2433/199461
出現コレクション:140 博士(情報学)

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