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ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
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yjohk00583.pdf | Abstract_要旨 | 116.67 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
djohk00583.pdf | Dissertation_全文 | 9.86 MB | Adobe PDF | 見る/開く |
タイトル: | Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits |
その他のタイトル: | バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響 |
著者: | Matsumoto, Takashi |
著者名の別形: | 松本, 高士 |
キーワード: | CMOS NBTI RTN combinational circuit gate oxide reliability noise |
発行日: | 23-Mar-2015 |
出版者: | 京都大学 (Kyoto University) |
学位授与大学: | 京都大学 |
学位の種類: | 新制・課程博士 |
取得分野: | 博士(情報学) |
報告番号: | 甲第19137号 |
学位記番号: | 情博第583号 |
学位授与年月日: | 2015-03-23 |
請求記号: | 新制||情||102(附属図書館) |
整理番号: | 32088 |
研究科・専攻: | 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 |
論文調査委員: | (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史 |
学位授与の要件: | 学位規則第4条第1項該当 |
著作権等: | 許諾条件により本文は2016/03/22に公開 ©2012 IEEE, ©2013 IEEE, ©2014 IEEE, ©2011 Japan Soc. App. Phys., ©2012 Japan Soc. App. Phys., ©2013 Japan Soc. App. Phys. |
DOI: | 10.14989/doctor.k19137 |
URI: | http://hdl.handle.net/2433/199461 |
出現コレクション: | 140 博士(情報学) |
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