Electron-beam induced variation of surface profile in amorphous As20Se80 films
Fájlok
Dátum
2014
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Természettudományok, Fizikai tudományok
Jogtulajdonos
szerző
Jelzet
Egyéb azonosító
Forrás
Journal Of Applied Physics. -115 : 18 (2014), p. 183512-1. -J. Appl. Phys. - 0021-8979
Támogatás
TÁMOP-4.2.2.A-11/1/KONV-2012-0036