Electron-beam induced variation of surface profile in amorphous As20Se80 films

Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Természettudományok, Fizikai tudományok
Jogtulajdonos
szerző
Jelzet
Egyéb azonosító
Forrás
Journal Of Applied Physics. -115 : 18 (2014), p. 183512-1. -J. Appl. Phys. - 0021-8979
Támogatás
TÁMOP-4.2.2.A-11/1/KONV-2012-0036