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| タイトル: | Characterization of stacking faults in 4H-SiC epilayers by room-temperature microphotoluminescence mapping |
| 著者: | Feng, Gan Suda, Jun Kimoto, Tsunenobu    https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed) |
| 発行日: | 2008 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | APPLIED PHYSICS LETTERS |
| 巻: | 92 |
| 号: | 22 |
| 論文番号: | 221906 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/78617 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.2937097 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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