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https://hdl.handle.net/10923/22267| Type: | conferenceObject |
| Title: | A INFLUÊNCIA DO TELÚRIO NAS PROPRIEDADES ELÉTRICAS E ÓPTICAS DOS COMPOSTOS SEMICONDUTORES Ga1-xInxSb CRESCIDOS PELO MÉTODO BRIDGMAN VERTICAL |
| Author(s): | |
| In: | 22º CBECiMat - Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais 06 a 10 de Novembro de 2016, Natal, RN, Brasil, 2016, Brasil. |
| Issue Date: | 2016 |
| Keywords: | microanálise por EDS segregation Bridgman method III ? V semiconductor FTIR |
| URI: | https://hdl.handle.net/10923/22267 |
| ISBN: | 9788593068027 |
| Appears in Collections: | Apresentação em Evento |
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