Maximum entropy method analysis of thermal motion and disorder in 
thermoelectric clathrate Ba8Ga16Si30

Bentien, A.; Iversen, B. B.; Bryan, J. D.; Stucky, G. D.; Palmquist, A. E. C.; Schultz, A. J.; Henning, R. W.

doi:10.1063/1.1466531

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Maximum entropy method analysis of thermal motion and disorder in thermoelectric clathrate Ba₈Ga₁₆Si₃₀

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Bentien, A.
Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

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Zitation

Bentien, A., Iversen, B. B., Bryan, J. D., Stucky, G. D., Palmquist, A. E. C., Schultz, A. J., et al. (2002). Maximum entropy method analysis of thermal motion and disorder in thermoelectric clathrate Ba₈Ga₁₆Si₃₀. Journal of Applied Physics, 91(9), 5694-5699. doi:10.1063/1.1466531.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-3153-C

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