Microstructural studies of Cu–Cr thin film structures grown by molecular beam 
epitaxy using advanced transmission electron microscopy

Harzer, T. P.; Dehm, G.

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Microstructural studies of Cu–Cr thin film structures grown by molecular beam epitaxy using advanced transmission electron microscopy

MPG-Autoren

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Harzer, T. P.
Structure and Micro-/Nanomechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Dehm, G.
Structure and Micro-/Nanomechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Harzer, T. P., & Dehm, G. (2012). Microstructural studies of Cu–Cr thin film structures grown by molecular beam epitaxy using advanced transmission electron microscopy. Poster presented at Macan Theromodynamics Workshop, Istanbul, Turkey.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-267C-D

Zusammenfassung

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