Atomic-scale characterization of the CdS/CuInSe2 interface in thin-film solar 
cells

Cojocaru-Mirédin, O.; Choi, P.; Wuerz, R.; Raabe, D.

doi:10.1063/1.3560308

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

Atomic-scale characterization of the CdS/CuInSe₂ interface in thin-film solar cells

MPG-Autoren

/persons/resource/persons125090

Cojocaru-Mirédin, O.
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125088

Choi, P.
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125330

Raabe, D.
Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

Externe Ressourcen

Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt

Volltexte (beschränkter Zugriff)

Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.

Volltexte (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar

Ergänzendes Material (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar

Zitation

Cojocaru-Mirédin, O., Choi, P., Wuerz, R., & Raabe, D. (2011). Atomic-scale characterization of the CdS/CuInSe₂ interface in thin-film solar cells. Applied Physics Letters, 98, 103504-1-103504-3. doi:10.1063/1.3560308.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3425-A

Zusammenfassung

Es ist keine Zusammenfassung verfügbar