The interaction of atomic hydrogen with very thin amorphous hydrogenated 
silicon films analyzed using in situ real time infrared spectroscopy: Reaction 
rates and the formation of hydrogen platelets

Keudell, A. von; Abelson, J. R.

doi:10.1063/1.368082

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

The interaction of atomic hydrogen with very thin amorphous hydrogenated silicon films analyzed using in situ real time infrared spectroscopy: Reaction rates and the formation of hydrogen platelets

MPG-Autoren

/persons/resource/persons109597

Keudell, A. von
Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

Externe Ressourcen

Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt

Volltexte (beschränkter Zugriff)

Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.

Volltexte (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar

Ergänzendes Material (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar

Zitation

Keudell, A. v., & Abelson, J. R. (1998). The interaction of atomic hydrogen with very thin amorphous hydrogenated silicon films analyzed using in situ real time infrared spectroscopy: Reaction rates and the formation of hydrogen platelets. Journal of Applied Physics, 84(1), 489-495. doi:10.1063/1.368082.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-8833-9

Zusammenfassung

Es ist keine Zusammenfassung verfügbar